测定晶体颗粒、杂物时需要注意的

　　如果我们在测定晶体颗粒、查或是类杂物时，则需要遵守两个原则来进行选择负荷，

　　压头或是压入深度不大于其厚度的十分之一。

　　压痕的对角线长度则不应当大于其面积的五分之一，测定其试件平均硬度时，在试件表面尺寸以及其厚度

　　允许的前提下，需尽量的选择大负荷。

　　以避免试件材料结构组织硬度不均匀从而影响试件硬度测定的正确性，为了保证测量的精确度，

　　在情允许的情况时则需要选择大负荷。

　　一般应使得压痕的对角线长度大于二十微米，考虑到试件表面冷加工时产生的挤压应力硬化层的影响，在

　　选择负荷时应在情况许可的情况下选择大负荷。

上海光学仪器厂是国内较早成立大型综合类光学仪器的生产企业，以显微镜、光学仪器、测量工具显微镜、生物显微镜、测量投影仪、影像测量仪、工具显微镜、分光光度计、折射仪等见长，在国内久负盛名。上海显微镜企业全面改制后，开发了与电脑……

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