晶粒度检测

　　晶粒度检测晶粒度（grain size）—用于描述晶粒大小的参数，常用的表示方法：单位体积的晶粒数目（ZV）；或单位面积内的晶粒数目（ZS）或晶粒的平均线长度（或直径）表示。晶粒度可用晶粒的平均面积或平均直径表示。

　　工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分8级，1-4级为粗晶粒，5-8级为细晶粒。一般晶粒度越大，也就是越细越好。

上海光学仪器厂是国内较早成立大型综合类光学仪器的生产企业，以显微镜、光学仪器、测量工具显微镜、生物显微镜、测量投影仪、影像测量仪、工具显微镜、分光光度计、折射仪等见长，在国内久负盛名。上海显微镜企业全面改制后，开发了与电脑……

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