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  • 产品概述
  • 性能特点
  • 技术参数

SG-109JD精密测量显微镜

一. 产品简介

SG-109JD测量显微镜,通过搭配无限远光学显微镜系统、照明裝置及对不同的升降机构和对焦机构的选择,可以组成多款不同功能的显微镜机型;本款产品结合了金相显微镜的高倍观察能力和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能,是同時具有高精度线性測量和观察的多功能量测仪器;可广泛应用 于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光电通讯、基础电子、模具五金、医 疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测;通过选购可以具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能

二.产品特点

1. 采用优异的无限远光学系统,提高成像衬度和清晰度,用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像,通过选购可实现明暗场,偏光,微分干涉等多种成像;

2. 模块化設計,国际NK经典机身设计,可按需加裝不同镜头组及照明系统;

3. 拥有优越的光学性能和超高测量精度,搭配主体的操作平衡性,让之前不可见或几乎不可见的物件如今不仅能观察,还能被测量;

4. 适合高性能零件、电子组件的三维测量;

5. 可轻易测量易碎工件及具有极小细节的工件!

6. 快速释放裝置便于测量大工件或多个数量工件时快速移动工作台,Z轴两侧均配备同轴粗/微调手轮,确保能以较快速度实现高精度对焦

7. 照明系统LED光源长寿命,快速响应及非常低的热辐射,由于热漂移导致的对焦不准得到显著改善。

三.技术规格

1. 光学系统无限远光学系统

2. 观察头:30°倾斜,正像,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节 :50-76mm;带有标准相机接口;十字线; 光路径转换(观测/相机 =0/100)

3. 观测方法:明场、简易偏光观测

4. 大视野平场目镜: PL10X/22mm,视度可调,可带测微尺

5. 无限远长工作距平场物镜

放大倍数

数值孔径

工作距离(mm)

PL L5×

0.10

25.00

PL L10×

0.25

11.00

PL L20×

0.40

8.00

PL L50×

0.75

1.90

6. 转换器:内定五孔转换器

7. 调焦系统:电动粗微调升降

8. 测量范围XY150×100mm

9. 工作台尺寸:260×160mm

10. 数显分辨率: 0.0005mm

11. 仪器的回程误差:0.002mm

12. 仪器测量准确度:X 和 Y (2+0.02L)μm,L 为测量长度(单位 :mm)

13. 照明系统明场反射照明器带滤色片与偏光装置插槽,带 5WLED 灯源,亮度可调透射照明装置:绿色LED平行光源,垂直光

14. 测量软件

① 辅助对焦十字线采点

② 元素测量与预制:点、线、圆、弧、槽、椭圆、矩形、圆环、云线、角度、焦面;

③ 元素构造:中心点、交点、中点、线、园、角度、距离、云线等的构造;

④ 图形处理:坐标平移、工件摆正、任意轴摆正,坐标系重置圆形缩放、图形平移、图形选中及删除等多种处理,测量更方便更快捷,提高测量效率;

⑤ 测量方法多样(自动寻边、对比测量、局部放大采点),可以满足用户不同需求,大大提高使用的方便性和测量精度;

⑥ 专业统计分析工具,分析图形有平均数全距管制图、直放图、CPK偏移图,利用数据统计原理,  有效控制生产,不断改进品质;

⑦ 测量数据直接发送到AutoCAD中,测量的图形可以用dxf文档保存,也可发送到Excel中进行

统计分析

⑧ 计录用户程序、编辑命令、教导执行;

⑨ 支持双显示器和多种语言界面的切换;

⑩ 用户可根据测量精度需求选择多点测量,规定点数测量,放大采点构造,对比方波进行工件测量;

⑪ 软件带有系统误差修正功能。目前可对坐标定位系统误差和垂直度系统误差进行补偿。对坐标定位系统误差的补偿,有线性补偿和区段补偿两种方法可供选用。

配置清单

1. 显微镜主机/1

2. 平场目镜PL10X/1

3. 物镜5x、10x、20x、50x/1

4. 垂直照明器/1台(在主机上)

5. 手动移动平台/1只(在主机上)

6. 高精度光栅尺/1套(在主机上)

7. 数显表/1  (在主机上)

8. 数字工业摄像头/1

9. 测量软件/1

10. 联想计算机/1

11. 产品合格证、保修卡及说明书/1份


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